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X射線熒光光譜儀早期照射面積需20毫米以上
發(fā)布時間:2020-04-24 09:01:10 點擊:4479
在X射線熒光光譜儀出現(xiàn)后,其迅速在各種科研和工業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。在其發(fā)展前期,主要還是應(yīng)用基本的,隨著科技的發(fā)展,在一些精度要求較高的領(lǐng)域,例如半導(dǎo)體行業(yè)襯底表面的超薄貴金屬鍍層的檢測,痕量貴金屬元素的檢測等,傳統(tǒng)的X射線熒光光譜儀已不能滿足人們的需求。
X射線熒光光譜儀早期照射面積需20毫米以上
為了解決這一問題,20世紀(jì)70年代出現(xiàn)了針對痕量貴金屬檢測的偏振XRF(US3944822)和全反射式XRF (DE2727505 AD)C使用偏振XRF分析樣品可顯著降低康普頓和相干散射信號。全反射XRF可以大大降低本來對痕量分析不利的X射線背景。DE2727505 A1中公開的全反射XRF能夠檢測硅襯底上的超薄金屬鍍層。
20世紀(jì)90年代,隨著人們生活水平的不斷提高,各種貴金屬產(chǎn)品(例如首飾,珠寶,黃金)的消費需求也逐年增長,與此同時,人們對貴金屬產(chǎn)品的質(zhì)量也越來越關(guān)注。此時,市面上已經(jīng)出現(xiàn)了一批X射線熒光光譜儀,但是上述市場上出售的X射線熒光光譜儀要求被分析的樣品應(yīng)具有平坦而均勻的被照射面積,才能獲得可靠而精確的結(jié)果。這些光譜儀的照射面積比較大(一般直徑20毫米以上),然而,很多貴金屬產(chǎn)品,例如金銀項鏈,鉑金鉆戒等都比較精致,形狀結(jié)構(gòu)復(fù)雜,有的還鑲嵌珠寶或其他合金,因此,使用這類X射線熒光光譜儀難以對首飾等貴金屬產(chǎn)品進(jìn)行可靠的分析。
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