直讀光譜儀檢測器:CCD檢測器能否取代PMT
發(fā)布時間:2019-02-19 15:05:26 點擊:7959
自古以來,人們都有一個毛病,非要分出個子丑寅卯,非左即右。在光譜儀檢測行業(yè),也存在著:檢測器推陳出新,更新?lián)Q代,CCD定能取代PMT,COMS完敗CCD的論調(diào)。
檢測器作為光譜儀的核心部件,其技術(shù)的發(fā)展進步往往引領(lǐng)著光譜儀的發(fā)展。電荷耦合元件(CCD)技術(shù)的應(yīng)用是光電直讀光譜儀的一個技術(shù)發(fā)展方向,采用CCD將會降低光電直讀光譜儀的生產(chǎn)成本及減小儀器體積。其次CCD最大的優(yōu)點是全譜,可以很方便地增加檢測元素的種類。此外,CCD具有良好穩(wěn)定性和較長的使用壽命,CCD型光電直讀光譜儀可以實現(xiàn)激發(fā)樣品時自動完成波長校準(zhǔn),不再需要定期進行校準(zhǔn),采用CCD技術(shù)可實現(xiàn)模塊化、易于校準(zhǔn)、抗振動。
小編在幾年前的單位從事檢測工作,當(dāng)年P(guān)MT還是主流,儀器笨大。因為伊始購置儀器的時候?qū)@方面不是很懂,初始只為了檢測鋁基材質(zhì),然后隨著工作的深入,需要檢測鐵基的時候,廠家說加費用,要拆機裝通道?!癊XCUSE ME?”。
現(xiàn)在不比當(dāng)年,運用
CCD技術(shù)的儀器已然占據(jù)大部分市場。但,CCD又真的能取代PMT的地位么?
和傳統(tǒng)的光電倍增管(PMT)技術(shù)相比,CCD發(fā)展較晚,作為新型檢測器件,還存在一定的局限性。首先CCD沒法如PMT那樣每個通道都做優(yōu)化。其次,CCD在應(yīng)用中為了降低暗電流需要降溫,這與光學(xué)系統(tǒng)需要恒溫相矛盾。CCD目前還無法應(yīng)用一些高速采樣技術(shù),因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT,其次如何保證多塊CCD的一致性,以及處理多塊CCD之間的接收空白區(qū),也是一個問題。此外,當(dāng)前CCD技術(shù)已經(jīng)可以滿足中端分析應(yīng)用水平,但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長期精度方面和PMT還是有差距。
其實很明顯的一個概念,就是實驗室的儀器往往是采購的PMT,普通的廠家CCD就夠了。
CCD和PMT差別
雖然目前CCD還有一些不足之處,但是大家認為CCD在光電直讀光譜儀中的應(yīng)用是值得期待的。PMT到現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展60多年了,是一種經(jīng)典成熟的技術(shù)。而CCD技術(shù)正處于飛速的發(fā)展變化之中,可以預(yù)期CMOS(互補金屬氧化物半導(dǎo)體)技術(shù)很快會應(yīng)用于CCD當(dāng)中,這些技術(shù)的不斷發(fā)展會促使CCD發(fā)展到更高的水平。近些年CCD器件發(fā)展已經(jīng)相當(dāng)成熟,能夠滿足一般的分析要求,針對細分市場,各種特殊用途的CCD不斷產(chǎn)生。CCD與PMT結(jié)合是目前解決全譜檢測并滿足微量和痕量分析的最優(yōu)選擇,但同時滿足兩種類型檢測器的采樣控制和系統(tǒng)的完美結(jié)合目前仍然是該類儀器的制造難點。
所以說,CCD和PMT的存在,在目前為止都是合理且必要,而最新的COMS技術(shù)也在進入市場。對于客戶來說,就是合理的選擇一款自己合適的儀器,不要人云亦云。
創(chuàng)想儀器目前的儀器都是以CCD技術(shù)為主,COMS技術(shù)在籌備,并即將推出上市,敬請期待。
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